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检验正弦规时执行的标准

来源:泊头市长河铸业有限责任公司 发布时间:2017/4/14 9:07:36
正弦规,正弦台,正弦尺
  正弦规是根据正弦函数原理,利用量块垫其一端,使之倾斜一定角度的检验定位工具。正弦规工作面的下方固定有两个直径相等且互相平行的圆柱体,它的公切面与上工作面平行。在主体侧面和前面分别装有可供被测件定位用的侧挡板它们分别垂直和平行于两圆柱的轴心线。

        在直角三角形中,sinα=H/L,式中H为量块组尺寸,按被测角度的公称角度算得。根据测微仪在两端的示值之差可求得被测角度的误差。正弦规一般用于测量小于45°的角度,在测量小于30°的角度时,_度可达3″~5″。

       正弦规是配合使用量块按正弦原理组成标准角,用以在水平方向按微差比较方式测量工件角度和内、外锥体的一种精密量仪。精度分为0级,1级。   检验时应按以下标准执行:

          正弦规是应用正弦原理,借助量块产生角度的一种计量器具,主要用于测量工件角度和圆锥体锥度。它分为0级和1级,有窄型(见图1)和宽型(见图2)两种结构型式。

图1 窄型正弦规

1-螺钉;2-前挡板;3-主体;4-侧挡板;5-圆柱

 

图2 宽型正弦规

1-螺钉;2-前挡板;3-主体;4-侧挡板;5-圆柱

      1级的正弦规装置成30°时的角值偏差测量,首先在平板上使用量块与正弦规组成30°的角度(按图7所示),将角度置于正弦规主体工作面上,并紧靠两挡板,然后用紧固在_表架上的测微仪的测微头与角度块工作面接触,分别读取A,B两点的读数a和b,按式(3)计算检定结果。

     检定结果的处理:按本规程规定的要求检定正弦规,发给检定证书,并注明准确度等级;不合格的应发给检定结果通知书,并注明不合格项目。
     检定周期:正弦规的检定周期根据使用情况确定,一般为1年。

图7 角值偏差测量示意图

1-平板;2-前挡板;3-角度块;4-测微仪;5-侧挡板;6-正弦规主体;7-圆柱;8-量块

检定证书和检定结果通知书(内页)格式

     该平行度应在平行和垂直于主体工作面的两个测量方向上进行。首先按图5所示,

图4 主体工作面与两圆柱母线公切面的平行度测量位置示意图

图5 两圆柱轴线的平行度测量位置示意图

     使用卧式光学计,在圆柱母线的A-A截面位置上测得一读数值DA再在B-B截面位置上测得一读数值DB,DA,与DB的差值,即为平行于主体工作面测量方向的两圆柱轴线的平行度。
     然后将正弦规主体工作面向下置于00级平板(见图6)上,用带_表架的测微仪分别在A-A和B-B两端截面位置上以一圆柱的_母线为基准,测量两圆柱_占间的高度偏差,两高度偏差之差为垂直于主体工作面方向的两圆柱轴线的平行度。两方向的两轴线的平行度的较大值为检定结果。

图6 两圆柱轴线的平行度测量位置示意图

     两圆柱中心距的偏差用卧式光学计与量块以比较法检定两圆柱的直径。检定时,将正弦规立于卧式光学计工作台面上,分别在两圆柱的中间截面(即图5所示的C-C截面)上进行测量,分别测量得圆柱1的截面直径d1c和圆柱2的截面直径d2c。按图5所示安置正弦规于卧式光学计工作台上,用光学计和量块以比较法测量图5中C-C截面位置Dc后,将其与C-C截面位置的两圆柱直径d1c、d2c一并代入式(1)求得正弦规中心距,该值与标称尺寸之差为检定结果。(1)式中:L实——正弦规中心距实际值,mm;Dc——C-C截面位置上两圆柱外侧的距离值,mm;d1c、d2c——两圆柱在C-C截面位置上的直径,mm;△
     正弦规成30°时的角值偏差:0级正弦规成30°的角值偏差是在00级平板上测量。测量时,先按图7所示,用测微仪测量主体工作面上A,B两位置的数值a0和b0,然后使用量块与正弦规组成30°的角度,将30°专用角度块置于正弦规上,并靠紧两挡板,再用测微仪测量角度块两端A,B两点的数值a1和b1,接着在平板原位置上,置换量块于正弦规的另一端,重复上述方法,分别测得a3,b3,b4,按式(2)计算检定结果。(2)式中:△a——正弦规的角值偏差,(”);∫——测微仪在A,B两点间的距离(应不小于66mm),mm;△∫——标准角度的角值偏差,(”);

(一)检定证书的内页格式

序号 检定项目 单位 检定结果
1 测量工作面的表面粗糙度 μm  
2 主体工作面平面度 μm  
3 主体工作面与两圆柱下部母线公切面的平行度 μm  
4 两圆柱轴线的平行度 μm  
5 两圆柱中心距的偏差 μm  
6 正弦规成30°时的角值偏差 (”)  

     较大允许误差要求见表1。主体工作面与圆柱母线公切面的平行度_允许误差要求见表1。

表1 计量性能要求

序号 检定项目名称 结构型式 L=100mm L=200mm 备注
0级 1级 0级 1级  
1 测量面的表面粗糙度(μm) 窄型、宽型

1.主体工作面:R。0.08

2.圆柱体表面:R。0.04

3.前挡板和侧挡板工作面:R。1.25

 
2 主体工作面的平面度(μm) 1 2 1.5 2 中间不允许凸
3 主体工作面与圆柱母线公切面的平行度(μm) 1 2 1.5 3  
4 两圆柱轴线的平行度(μm) 窄型 1 1 1.5 2 全长上
宽型 2 3 2 4
5 两圆柱中心距的偏差(μm) 窄型 ±1 ±2 ±1.5 ±3  
宽型 ±2 ±3 ±2 ±4
6 正弦规成30°时的角值偏差(μm) 窄型 ±5 ±8 ±5 ±8  
宽型 ±8 ±16 ±8 ±16
     两圆柱轴线的平行度较大允许求见表1,两圆柱中心距的偏差较大允许要求见表1,正弦规成30°时的角值偏差较大允许误差要求见表1。
     通用技术要求:正弦规的各工作面上应无锈蚀、碰伤、划痕和毛刺。正弦规应标明制造厂(或厂标)、标志、规格及出厂编号。正弦规应无磁性。
     计量器具控制:计量器具控制包括_检定、后续检定和使用中检验。
     检定条件:实验室的温度为(20±1)℃,每小时变化应大于1℃。检定前,应将正弦规置于室内平板上不少于1h,或置于室内不少于3h。
     主要检定器具及其技术要求见表2

表2 主要检定器具及其技术要求

器具名称 技术要求
  0级正弦规 1级正弦规
表面粗糙度比校样块 示值误差:+12%~-17% 示值误差:+12%~-17%
刀口形直尺 0级 0级
测微仪 示值误差应大于0.3μm 示值误差应大于0.5μm
卧式光学计 示值误差应大于0.20μm 示值误差应大于0.20μm
平板 00级 0级
量块 3等 3等
角度块 0级 0级

检定项目:正弦规检定项目见表3。

表3

序号 检定项目 _检定 后续检定 使用中检验
1 外观 + + +
2 磁性 + + +
3 测量面的表面粗糙度 + - -
4 主体工作面平面度 + + -
5 主体工作面与两圆柱母线公切面的平行度 + + -
6 两圆柱轴线的平行度 + - -
7 两圆柱中心距的偏差 + - -
8 正弦规成30°时的角值偏差 + + +
注:表中“+”表示应检项目,“-”表示可不检项目。

     检定方法:外观为目力观察。磁性检测为试验。测量面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块以比较进行检定。主体工作面平面度使用尺寸不小于主体工作面对角线长度的0级刀口形直尺,在受检工作面不少于四个位置(如图3所示)上以光隙法进行测量,取较大值作为检定结果。

图3 主体工作面平面度测量位置示意图

     主体工作面与两圆柱母线公切面的平行度检定时,将正弦规放在平板上,使坚固在_表上架上的测微仪与主体工作面接触,接触点位置距工作面边缘约4mm,移动正弦规,按图4所示A,B,C,D四个位置分别进行测量,测微仪测得的较大值之差即为检定结果。
 本规程适用于准确度等级为0级和1级的正弦规的_检定、后续检定和使用中检验。
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